产 品 展 示
 激光干涉仪 >> INF600LP-WM平面激光干涉仪  

特长:

双端口

高精度

大口径

应用波长调谐相移技术

配置相移软件分析系统

用途:

双端口检测适用面广

适用于大口径平面元件面形检测

适用光学材料均匀性测量

适用大口径平面元件透射测量

技术指标:

 技 术 指 标

参 数 值 

 测 量 原 理

斐索干涉原理 

 测 量 方 式

 非接触

 结 果 形 式

 干涉条纹图/相称分析测试报告

 标准平面镜精度

pv:优于λ/10(λ=632.8nm) 

 CCD分辩率

1024(H) ×1024(V)Pixl(2/3英寸)

 连续变焦倍率

1~3X 

 光              源

 波长调谐激光器

 波              长

 632.8nm

 通 光 口 径

 610mm

 有效测量口径

 600mm

 电                源

 AC220V/50Hz

 最佳工作温度

 20°C~23°C

 尺               寸

4800×1500×2000mm 

 质              

 1500kg

 

 

点击数:403  录入时间:2010-1-14 【打印此页】 【返回  
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