产 品 展 示
 激光干涉仪 >> OSI-120SQ激光球面干涉仪  

特长

测量光学球面表面面形

测量光学平面表面面形

精密相移技术应用

相移软件分析系统

遥控操作、聚集、变焦、对准切换

用途

高精度球面元件面形测量

高精度平面板的面形测量 

元件面形分析、光学数据处理

规格:

 最大测量口径(平面)

 Φ120 mm

 测量方式

 菲索干涉原理

 显示方式

CCD显示

 标准平面镜面形精度

  p-v:优于λ/20

 球面参照镜面形精度

 p-v:优于λ/15

光源

  He-Ne激光器

 波长

632.8nm

 连续变焦倍数

 3

 监视器

 9" 

 测量重复性精度

λ/100(3δ)

 电源

 210~230V40~60Hz

 最佳工作温度

 20°C25°C

 导轨长度

 1200mm

 尺寸

 750×620×280mm

 重量

 75Kg


点击数:407  录入时间:2010-1-14 【打印此页】 【返回  
产品分类   |  信息反馈  |  联系我们 | 收藏本站

版权所有 成都太科光电技术有限责任公司