※特长：

■适用于批量检测

■中小口径平面元件的测量

※用途：

■平面光学元件面形精度测量

■晶体、光盘、磁头等元器件面形精度测量

■平面元件光学均匀性测量

※规格：

最大测量口径	Φ75mm
测量方式	菲索干涉原理
显示方式	CCD显示
标准参照镜面形精度	p-v：λ/20
光源	专业稳频HE-Ne激光器
波长	632.8nm
监视器	9"
电源	210~230V  40~60Hz
最佳工作温度	20°C～25°C
尺寸	382×340×905mm
重量	约60Kg