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OSI－75TP图象激光平面干涉仪
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产品特点： |
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光学表面高精度无损检测
结构紧凑、设计合理
操作简便、使用流畅
对准光路和成像光路的电子切换
通过国际权威设备测试与对比 |
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应用范围： |
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透镜、棱镜等光学元件表面精度测量
晶体、光盘、磁头等元件表面精度测量
金属、塑料、陶瓷、硬盘等元器件表面精度测量 |
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技术指标 |
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参数值 |
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测量原理
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菲索干涉原理 |
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标准参照镜表面精度 |
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p-v：优于λ/20 |
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显示方式 |
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CCD显示 |
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最大工作口径 |
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Φ75mm |
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光源 |
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He-Ne激光器 |
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波长 |
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632.8 nm |
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监视器 |
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9" |
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电源 |
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210～230V
40～60Hz |
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最佳工作温度 |
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20°C～25°C |
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尺寸 |
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382×340×905mm |
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重量 |
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约70Kg |
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| 注:如有更改以实物为准 |
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●WYKO 24"双端口平面相移干涉仪
●WYKO RST PLUS表面轮廓仪
●ZYGOGPIXPHR4"球面相移干涉仪
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